產(chǎn)品名稱：日本日立HITACHI日立TM系列專用能譜儀，西崎成都強(qiáng)勢(shì)供應(yīng)

通過(guò)簡(jiǎn)單操作即可迅速獲取彩色X射線面分布

移動(dòng)到指定位置，可實(shí)時(shí)確認(rèn)其譜圖

雙屏顯示

僅需選擇圖像和模板，即可在生成Word®、Excel®、面分布信息的同時(shí)，實(shí)時(shí)顯示點(diǎn)分析、線分析結(jié)果等多種分析。

超高的性能（hyper map）成就了一次測(cè)試即可獲取點(diǎn)分析、線分析、面分布結(jié)果

點(diǎn)分析

可根據(jù)點(diǎn)位置移動(dòng)實(shí)時(shí)追蹤譜圖，輕松確認(rèn)目標(biāo)元素。

實(shí)時(shí)在線譜峰剝離面分布

分離出常規(guī)面分布圖像中的譜峰重疊元素，并顯示正確結(jié)果。

• 項(xiàng)目	內(nèi)容
  探測(cè)器類型	硅漂移探測(cè)器
  探測(cè)器面積	30 mm2
  能量分辨率	148 eV (Cu-Kα) (Mn-Kα?xí)r不高于129 eV)
  可檢測(cè)元素	B5～Cf98